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          顆粒度計數分析顯微鏡

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          徠卡Leica DM4000M 顆粒度計數分析顯微鏡

          支持多種國內及國際標準,包括ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19等;支持用戶(hù)自定義評級標準。自動(dòng)區分金屬和非金屬顆粒,可以對纖維進(jìn)行統計,可測量顆粒高度。

          另外有經(jīng)濟性顆粒度分析顯微鏡徠卡DMS1000供選擇

          功能和特點(diǎn):

          1.自動(dòng)智能顯微鏡,三軸XYZ電動(dòng),XY自動(dòng)掃描,可對顆粒最大長(cháng)度和寬度進(jìn)行自動(dòng)實(shí)時(shí)測量,不受顆粒大小限制;Z軸在掃描過(guò)程中自動(dòng)對焦。三軸可實(shí)現對顆粒的長(cháng)寬高的數據測量。掃描結束后,所有顆粒均完成坐標定位,可方便地隨時(shí)觀(guān)察單個(gè)顆粒。實(shí)時(shí)更新顯示測量過(guò)程中所測最大顆粒。

          2.清潔度專(zhuān)用光路,自動(dòng)偏光光路,自動(dòng)識別金屬顆粒、非金屬顆粒、纖維。

          3.全自動(dòng)化光路,所有硬件參數均數字化,所有硬件參數均可自動(dòng)記錄保存,方便調用,可100%精確實(shí)現同一測量條件重復性測量。所有測量參數包括光強、光闌、曝光時(shí)間、閥值、放大倍率等參數均自動(dòng)記錄輸出在自動(dòng)生成的清潔度專(zhuān)業(yè)報告中。

          4.一次掃描即可完成所有測量,測量速度快,節約時(shí)間成本,并可避免因為載物臺精度造成的像素偏移導致的測量結果偏差。


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