一. 設備參數

1、照相式三維光學(xué)掃描OKIO-5M

1.1.設備類(lèi)型：照相式三維光學(xué)掃描OKIO-5M

單面測量范圍：400×300 mm2  至200×150 mm2可調

* 測量精度：0.015mm～0.008mm；

平均采樣點(diǎn)距：0.13mm～0.07mm

1.2.三維光學(xué)掃描系統

1.3三維光學(xué)掃描系統配置與功能要求

(1)數據采集傳感器：原裝進(jìn)口，高速、高精密工業(yè)級相機 5,000,000像素

* (2)光柵發(fā)生裝置：藍光高速數字型，非普通投影儀

(3)便攜式三角架，云臺承重10KG

* (4) 計算機系統：支持windows 7，64位操作系統，支持內存16G以上

* (5)掃描速度：高速掃描、單幅測量時(shí)間≤1.5秒

* (6)光柵輸出：內置光柵、USB3.0接口控制、光柵無(wú)需雙顯卡設置輸出

(7)拼接方式：系統整合“一鍵式”全自動(dòng)標志點(diǎn)拼接模塊

(8)全局誤差控制方式：系統整合GREC全局誤差控制模塊

* (9)支持高速藍牙光筆 

* (10)激光點(diǎn)對中，方便工作距離調節

* (11)附帶紅外遙控器操作

* (12)測量頭控制高度集成，設備只需一根高速USB3.0線(xiàn)傳輸數據

* (13)采用藍光光柵機，對外界環(huán)境光的干擾降到最低

1.4三維光學(xué)掃描系統軟件功能要求

  * 自動(dòng)拼接模塊

(1)      功能強大的中文掃描軟件中整合“一鍵式”標志點(diǎn)全自動(dòng)拼接模塊，不需要使用外部軟件進(jìn)行數據拼接

(2)      系統精度實(shí)時(shí)檢測功能，每次掃描拼接后自動(dòng)報告拼接質(zhì)量的好壞，并可實(shí)時(shí)查看對應的標志點(diǎn)精度

(3)      系統軟件整合GREC全局誤差控制模塊，可對拼接后的誤差進(jìn)行全局控制

(4)      特征拼接，可利用物體的特征不貼標志點(diǎn)進(jìn)行拼接

   點(diǎn)云處理模塊

(1)      掃描數據后，可進(jìn)行點(diǎn)云噪聲處理及修剪

(2)      基于曲率的點(diǎn)云精簡(jiǎn)功能

(3)      自動(dòng)生成三角面

  * 對齊及檢測模塊

(1)      特征擬合功能，如平面，圓，圓柱，球等

(2)      利用特征的坐標變換功能

(3)      平面度、圓柱度、球度檢測功能

* 數據輸入輸出

   導出結果為ASC，STL，OBJ，OKO等格式數據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據。

二、三維數據處理系統備件清單