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          超聲波探傷儀在鍛件與鑄件探傷時(shí)的應用技巧

            超聲波探傷儀在鍛件與鑄件探傷時(shí)的應用技巧

            鍛件和鑄件是各種機械設備及鍋爐壓力容器的重要毛坯件。

            一.鑄件超聲波探傷

            由于鑄件晶粒粗大、透聲性差,信噪比低,所以探傷困難大,它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件內部的傳播中,碰到內部表面或缺陷時(shí)產(chǎn)生反射而發(fā)現缺陷。反射聲能的大小是內表面或缺陷的指向性和性質(zhì)以及這種反射體的聲阻抗的函數,因此可以應用各種缺陷或內表面反射的聲能來(lái)檢測缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。超聲檢測作為一種應用比較廣泛的無(wú)損檢測手段,其主要優(yōu)勢表現在:檢測靈敏度高,可以探測細小的裂紋;具有大的穿透能力,可以探測厚截面鑄件。其主要局限性在于:對于輪廓尺寸復雜和指向性不好的斷開(kāi)性缺陷的反射波形解釋困難;對于不合意的內部結構,例如晶粒大小、組織結構、多孔性、夾雜含量或細小的分散析出物等,同樣妨礙波形解釋;另外,檢測時(shí)需要參考標準試塊。。

            二.鍛件超聲波探傷

            (一)鍛件加工及常見(jiàn)缺陷

            鍛件是由熱態(tài)鋼錠經(jīng)鍛壓變形而成。鍛壓過(guò)程包括加熱、形變和冷卻。鍛件缺陷可分為鑄造缺陷、鍛造缺陷和熱處理缺陷。鑄造缺陷主要有:縮孔殘余、疏松、夾雜、裂紋等。鍛造缺陷主要有:折疊、白點(diǎn)、裂紋等。熱處理缺陷主要是裂紋。

            縮孔殘余是鑄錠中的縮孔在鍛造時(shí)切頭量不足殘留下來(lái)的,多見(jiàn)于鍛件的端部。

            疏松是鋼錠在凝固收縮時(shí)形成的不致密和孔穴,鍛造時(shí)因鍛造比不足而未全溶合,主要存在于鋼錠中心及頭部。

            夾雜有內在夾雜、外來(lái)非金屬夾雜和金屬夾雜。內在夾雜主要集中于鋼錠中心及頭部。

            裂紋有鑄造裂紋、鍛造裂紋和熱處理裂紋等。奧氏體鋼軸心晶間裂紋就是鑄造引起的裂紋。鍛造和熱處理不當,會(huì )在鍛件表面或心部形成裂紋。

            白點(diǎn)是鍛件含氫量較高,鍛后冷卻過(guò)快,鋼中溶解的氫來(lái)不及逸出,造成應力過(guò)大引起的開(kāi)裂。白點(diǎn)主要集中于鍛件大截面中心。白點(diǎn)在鋼中總是成群出現。

            (二)探傷方法概述

            按探傷時(shí)間分類(lèi),鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過(guò)程中的探傷,產(chǎn)品檢驗及在役檢驗。

            原材料探傷和制造過(guò)程中探傷的目的是及早發(fā)現缺陷,以便及時(shí)采取措施避免缺陷發(fā)展擴大造成報廢。產(chǎn)品檢驗的目的是保證產(chǎn)品質(zhì)量。在役檢驗的目的是監督運行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺陷,主要是疲勞裂紋。

            1.軸類(lèi)鍛件的探傷

            軸類(lèi)鍛件的鍛造工藝主要是以拔長(cháng)為主,因而大部分缺陷的取向與軸線(xiàn)平行,此類(lèi)缺陷的探測以縱波直探頭從徑向探測效果最佳?紤]到缺陷會(huì )有其它的分布及取向,因此軸類(lèi)鍛件探傷,還應輔以直探頭軸向探測和斜探頭周向探測及軸向探測。

            2.餅類(lèi)、碗類(lèi)鍛件的探傷

            餅類(lèi)和碗類(lèi)鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主,缺陷的分布主要平行于端面,所以用直探頭在端面探測是檢出缺陷的最佳方法。

            3.筒類(lèi)鍛件的探傷

            筒類(lèi)鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類(lèi)鍛件和餅類(lèi)鍛件中的缺陷的取向復雜。但由于鑄錠中質(zhì)量最差的中心部分已被沖孔時(shí)去除,因而筒類(lèi)鍛件的質(zhì)量一般較好。其缺陷的主要取向仍與筒體外圓表面平行,所以筒類(lèi)鍛件的探傷仍以直探頭外圓面探測為主,但對于壁較厚的筒類(lèi)鍛件,須加用斜探頭探測。

            (三)探測條件的選擇

            1.探頭的選擇

            鍛件超聲波探傷時(shí),主要使用縱波直探頭,晶片尺寸為Φ14~Φ28mm,常用Φ20mm。對于較小的鍛件,考慮近場(chǎng)區和耦合損耗原因,一般采用小晶片探頭。有時(shí)為了探測與探測面成一定傾角的缺陷,也可采用一定K值的斜探頭進(jìn)行探測。對于近距離缺陷,由于直探頭的盲區和近場(chǎng)區的影響,常采用雙晶直探頭探測。

            鍛件的晶粒一般比較細小,因此可選用較高的探傷頻率,常用2.5~5.0MHz。對于少數材質(zhì)晶粒粗大衰減嚴重的鍛件,為了避免出現“林狀回波”,提高信噪比,應選用較低的頻率,一般為1.0~2.5MHz。


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